Изображения являются только для ссылки
SN74ABT18640DGGR
+БОМIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
-
ПроизводительТехасские инструменты
-
Мфр. Часть #SN74ABT18640DGGR
-
Лист данных SN74ABT18640DGGR DataSheet
-
Пакет TFSOP-56
-
В наличии8004
365 Дни гарантии качества
7*24 часы обслуживания каранти
90-гарантия послепродажного дня
Гарантия подлинного продукта
Спецификации
| Атрибут | Ценность |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package / Case | Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT) |
| Series | 74ABT |
| Part Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
