Изображения являются только для ссылки
SN74ABT18652PM
+БОМIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
-
ПроизводительТехасские инструменты
-
Мфр. Часть #SN74ABT18652PM
-
Лист данных SN74ABT18652PM DataSheet
-
Пакет LQFP-64
-
В наличии6938
365 Дни гарантии качества
7*24 часы обслуживания каранти
90-гарантия послепродажного дня
Гарантия подлинного продукта
Спецификации
| Атрибут | Ценность |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package / Case | Bulk,Tray |
| Series | 74ABT |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
