Изображения являются только для ссылки
SN74ABT8543DW
+БОМIC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC
-
ПроизводительТехасские инструменты
-
Мфр. Часть #SN74ABT8543DW
-
Лист данных SN74ABT8543DW DataSheet
-
Пакет SOIC-28
-
В наличии2932
365 Дни гарантии качества
7*24 часы обслуживания каранти
90-гарантия послепродажного дня
Гарантия подлинного продукта
Спецификации
| Атрибут | Ценность |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package / Case | Bulk,Tube |
| Series | 74ABT |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
