Изображения являются только для ссылки
SN74ABTH18652APM
+БОМIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
-
ПроизводительТехасские инструменты
-
Мфр. Часть #SN74ABTH18652APM
-
Лист данных SN74ABTH18652APM DataSheet
-
Пакет 64-LQFP
-
В наличии4880
365 Дни гарантии качества
7*24 часы обслуживания каранти
90-гарантия послепродажного дня
Гарантия подлинного продукта
Спецификации
| Атрибут | Ценность |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package | Bulk,Tray |
| Series | 74ABTH |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 18 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 64-LQFP |
