Изображения являются только для ссылки
SN74BCT8240ADWR
+БОМIC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
-
ПроизводительТехасские инструменты
-
Мфр. Часть #SN74BCT8240ADWR
-
Лист данных SN74BCT8240ADWR DataSheet
-
Пакет SOIC-24
-
В наличии3855
365 Дни гарантии качества
7*24 часы обслуживания каранти
90-гарантия послепродажного дня
Гарантия подлинного продукта
Спецификации
| Атрибут | Ценность |
| Supplier | Texas Instruments,Rochester Electronics, LLC |
| Package / Case | Tape & Reel (TR),Bulk |
| Series | 74BCT |
| Part Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with Inverting Buffers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
