Изображения являются только для ссылки
SN74BCT8244ADWR
+БОМIC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
-
ПроизводительТехасские инструменты
-
Мфр. Часть #SN74BCT8244ADWR
-
Лист данных SN74BCT8244ADWR DataSheet
-
В наличии8267
365 Дни гарантии качества
7*24 часы обслуживания каранти
90-гарантия послепродажного дня
Гарантия подлинного продукта
Спецификации
| Атрибут | Ценность |
| Supplier | Texas Instruments,Rochester Electronics, LLC |
| Package | Tape & Reel (TR),Bulk |
| Series | 74BCT |
| ProductStatus | Discontinued at Digi-Key |
| LogicType | Scan Test Device with Buffers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | 0°C ~ 70°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) |