Изображения являются только для ссылки
SN74BCT8374ADW
+БОМIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
-
ПроизводительТехасские инструменты
-
Мфр. Часть #SN74BCT8374ADW
-
Лист данных SN74BCT8374ADW DataSheet
-
Пакет SOIC-24
-
В наличии7551
365 Дни гарантии качества
7*24 часы обслуживания каранти
90-гарантия послепродажного дня
Гарантия подлинного продукта
Спецификации
| Атрибут | Ценность |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package / Case | Tube |
| Series | 74BCT |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
